| 設備名 | 蛍光X線膜厚測定器 FT-160S |
|---|---|
| メーカー | HITACHI |
| 特徴 | ・非破壊測定 ・小径、小面積部品の測定 ・下地を含めた多層めっき測定 *微小部品においても安定した品質管理体制を構築しています。 |
以下のめっきについては、量産品・継続案件を中心に安定した品質で対応をしています。
・硬質金(Au-Co) ・軟質金(Au) ・銀(Ag)
・ロジウム(Rh) ・パラジウム(Pd)
・電解ニッケル(Ni) ・無電解ニッケル(Ni-P) ・錫(Sn) ・銅(Cu)
上記以外のめっき種類につきましても、開発案件・評価案件としてのご相談は内容により対応可能な場合があります。